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[單選題]
盤測試項目正確的選項()。
A.信噪比、平坦度、光功率
B.光功率、信噪比、誤碼率
C.光功率、誤碼率、平坦度
D.誤碼率、信噪比、平坦度
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A.信噪比、平坦度、光功率
B.光功率、信噪比、誤碼率
C.光功率、誤碼率、平坦度
D.誤碼率、信噪比、平坦度
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第1題
A、誤碼率 B、損耗 C、信噪比 D、光功率
第5題
A、波分系統中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因
B、信號經過多級WLA級聯后比經過多級WBA級聯后的信噪比劣化的嚴重一些
C、用光譜分析儀在D40單板下波后測試的信噪比會比在IN口測試的信噪比的值要大一點
D、提高信噪比的方法是提高光功率,因此光功率高信噪比就一定高
第6題
A.波分系統中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因;
B.信號經過多級WLA級聯后比經過多級WBA級聯后的信噪比劣化嚴重一些;
C.用光譜分析儀在D40單板下波后測試的信噪比會比在IN口測試的信噪比的值要大一點;
D.提高信噪比的方法是提高光功率,因此光功率高信噪比就一定高