14.3.2 傳輸性能分析儀

傳輸性能分析儀是一種傳輸專業(yè)的常用儀表，它通過在接收端分析被測電路中信號(hào)碼流的誤碼、抖動(dòng)等參數(shù)來分析被測電路的傳輸質(zhì)置，被測電路中可以是正常的傳輸信號(hào)，也可以是在發(fā)送端向被測電路輸入的符合接口規(guī)范的偽隨機(jī)比特序列。傳輸性能分析儀是傳輸網(wǎng)絡(luò)維護(hù)中必不可少的工具，可以實(shí)現(xiàn)對PDH/SDH混合網(wǎng)絡(luò)的綜合測試，適用于各種SDH的TM、ADM、REG和DXCM元測試，支持多種接口，并能對支路單元進(jìn)行復(fù)用/分用測試，可以提供符合ITU-T的G821、G826、M.2100、M.2110等一系列標(biāo)準(zhǔn)的分析結(jié)果。

1.儀表性能

下面以AgilentOmniBER718為例，介紹其主要的測試項(xiàng)目。

(1)SDH設(shè)備傳送能力測試

有關(guān)誤碼率的測試

根據(jù)ITU-T的G821、G.826、M2101、M2100、M2110、M2120進(jìn)行誤碼測試，一次測試，同時(shí)給出這些項(xiàng)的結(jié)果分析。

電接口指標(biāo)測試（STM-1E,PDH140/34/2Mbit/s接入網(wǎng)）

發(fā)送脈沖形狀（符合ITU-TG703PDH&SDH模板）

發(fā)送信號(hào)眼圖（STM-1E)

光接U指標(biāo)測試（STM-1/4/16)

光輸出功率（平均）

光接收機(jī)靈敏度（符合ITU-TG957光接收機(jī)靈敏度指標(biāo)）

光眼圖模板

光回波損耗（發(fā)送端/接收端）

最大光接收電平（過載）

(2)SDH功能性測試

按照ITU-TG707對SDHSTM-1/4/16/4C/16C信號(hào)的各個(gè)字節(jié)進(jìn)行分析和顯示等測試。除BIP字節(jié)和指針字節(jié)外，段開銷和通道開銷可由用戶任意設(shè)置進(jìn)行測試。

按照ITU-TG707要求進(jìn)行映射/去映射測試。

按照ITU-TG783進(jìn)行指針調(diào)整測試。按照ITU-T(1783、G958進(jìn)行告?功能和性能監(jiān)視測試。

再生段：LOF、OOF。

復(fù)用段：LOS、LOF、LOP、OOF、AIS、FERF?

AU、TU通道：AIS、FERF、LOP。

Bl、B2、B3、BIP2、FEBE。

(3)SDH設(shè)備抖動(dòng)測試

按照ITU-TG958要求對SDH設(shè)備端口進(jìn)行線路輸出抖動(dòng)測試。要求運(yùn)用0.172建議規(guī)定的相關(guān)濾波器，同時(shí)給出RMS和峰峰值結(jié)果。要求測試儀表固有抖動(dòng)誤差滿足0.172建議要求。

按照ITU-TG825、G958要求對SDH設(shè)備進(jìn)行輸入抖動(dòng)和漂移容限測試，AgilentOminBER718在測試時(shí)同時(shí)可給出ITU-T模板和測試結(jié)果,所以很容易進(jìn)行結(jié)果的對比分析。

按照ITU-TG783要求對SDH設(shè)備進(jìn)行映射抖動(dòng)和結(jié)合抖動(dòng)測試，在進(jìn)行結(jié)合抖動(dòng)測試時(shí)，同時(shí)產(chǎn)生結(jié)合抖動(dòng)測試所必需的ITU-T指針調(diào)整序列和凈負(fù)荷頻偏。

按照ITU-TG958規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)對SDH再生器設(shè)備進(jìn)行抖動(dòng)轉(zhuǎn)移函數(shù)測試。測試時(shí)應(yīng)對被測信號(hào)進(jìn)行選頻測量。

(4)設(shè)備基木參數(shù)測試

線路傳輸速韋測試，線路速率偏移測試（ppm)。線路速率頻偏容限測試。

傳輸延遲時(shí)間測試。

自動(dòng)保護(hù)倒換（APS)時(shí)間測試：（含Kl,K2字節(jié)協(xié)議分析），直接給出時(shí)間結(jié)果，即測試SDH網(wǎng)絡(luò)發(fā)生倒換時(shí)，對各種業(yè)務(wù)（包括2M/34M/140M和155M)的影響時(shí)間。ITU-T.783、G841要求線性網(wǎng)絡(luò)和環(huán)形網(wǎng)絡(luò)的倒換時(shí)間小于50ms。

(5)其他測試

DCC通道插入、提取，誤碼率測試。

ATM測試能力。

DDF和0DF測試。

上述各類測試中，有些項(xiàng)目需要與光功率計(jì)、光哀耗器等配合使用。

2.儀表使用

以測試誤碼性能為例，首先進(jìn)行儀表接地，再進(jìn)行測試參數(shù)設(shè)置，即根據(jù)被測電路端口規(guī)范設(shè)置信號(hào)碼型、速率、信號(hào)系列圖案（偽隨機(jī)比特序列）、終端方式、凈荷類型、時(shí)鐘同步類型等參數(shù)，參數(shù)設(shè)置時(shí)可根據(jù)需要設(shè)置收發(fā)耦合或收發(fā)分別設(shè)置，然后設(shè)置結(jié)果分析標(biāo)準(zhǔn)、測試周期、輸出周期等項(xiàng)目，全部設(shè)置完成后將儀表接入被測電路并啟動(dòng)測試（某些項(xiàng)目的被測電路接入前應(yīng)根據(jù)需要在本端或?qū)Χ诉m當(dāng)位置環(huán)回）。

在使用儀表時(shí)，要注意儀表可靠接地，插拔儀表模塊時(shí)應(yīng)佩帶防靜電手鐲。

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